01 El primer microscopio de efecto túnel (STM) se desarrolló en 1981. Los laboratorios de investigación de Suiza desarrollaron el primer prototipo funcional. Posteriormente, se desarrolló el microscopio de fuerza atómica (AFM) para superar una limitación fundamental del STM: este solo podía obtener imágenes de superficies conductoras o semiconductoras. El AFM, en cambio, puede obtener imágenes de cualquier tipo de superficie, como polímeros, cerámicas, materiales compuestos, vidrio y sustratos biológicos. El AFM original consistía en un cristal de diamante adherido a una tira de lámina de oro. Una segunda punta detectaba el movimiento vertical del voladizo, mientras que el STM se colocaba encima del mismo.Los microscopios de fuerza atómica modernos, sin embargo, cuentan con un tipo de microscopía de sonda de barrido (SPM) de muy alta resolución, con una resolución demostrada 1000 veces superior al límite de difracción óptica. Gracias a ventajas como la medición de fuerza, la obtención de imágenes topográficas y la manipulación de nanopartículas, y a la creciente demanda en diversos sectores industriales, se prevé que el mercado de la microscopía de fuerza atómica experimente un crecimiento positivo.
Mayo de 2026:Bruker Corporation ha lanzado un microscopio de fuerza atómica de última generación con capacidades mejoradas de imagen a nanoescala y análisis automatizado. El sistema mejora la precisión de las mediciones y la eficiencia del flujo de trabajo, reforzando así la cartera de instrumentación nanotecnológica de Bruker.
Abril de 2026:Oxford Instruments amplió sus soluciones de microscopía de fuerza atómica mediante la introducción de capacidades avanzadas de imagen correlativa. La nueva plataforma respalda la investigación de semiconductores y materiales avanzados, y mejora la caracterización a nanoescala de alta resolución.
Febrero de 2026:Park Systems presentó un sistema AFM mejorado con escaneo asistido por IA y procesamiento de datos automatizado. Esta solución mejora la velocidad y la repetibilidad de las imágenes para laboratorios de investigación y amplía la cartera de productos de microscopía avanzada de la compañía.
Octubre de 2025:Bruker Corporation ha ampliado su cartera de análisis a nanoescala con software AFM mejorado y funciones de automatización. Estas mejoras optimizan la precisión de las imágenes y la productividad del usuario, y son compatibles con aplicaciones avanzadas de ciencias biológicas e investigación de materiales.