Home Technology 障害分析市場規模、成長、傾向、2029 年までのレポート

故障解析市場:技術(エネルギー分散型X線分光法)、アプリケーション(電子・半導体、産業科学)、地域別の情報 — 2029年までの予測

レポートコード: SRTE1859DR
最終更新日 : Dec 27, 2023
著者 : Straits Research
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市場概況

機器の重要なコンポーネントの故障を分析するプロセスは、故障分析と呼ばれます。世界の相手先商標製品製造業者 (OEM) の間では、デバイスの製造、サービス、メンテナンスの一環として、故障解析技術の使用に対する高い需要があります。物理的手法と化学的手法の両方で実行される故障解析は、新製品の開発や既存の機械や装置の効率向上のため、さまざまな業界にとって重要な技術です。

障害分析は、デバイスの障害の主な原因を認識するのに役立ち、将来の同様の障害の再発を最小限に抑えます。これは、製造上の欠陥、誤用、組み立てエラー、不適切な材料、設計エラー、不適切なメンテナンス、不適切な品質保証、鋳造の中断、業界における予期せぬ稼働状況を検出するために使用されます。障害分析は、障害の特定と修正を行う従来の手動プロセスに比べて非常に有利です。このプロセスは主にコンポーネント、構造、アセンブリの障害に対処するもので、多くの場合、より大規模な調査の一部として定義されます。

故障解析市場は、技術の進歩と産業部門の成長により、予測期間中に大幅なCAGRで成長すると予想されます。 2019年のコロナウイルスのパンデミックにより、数か月間にわたり産業操業と製造プロセスが停止し、産業が再開され始めると特定のエラーが発生する可能性がありました。

技術の進化により、障害を特定して修正するための高度なツールの構築が容易になり、新型コロナウイルス感染症流行後にはほとんどの製造業者がこのツールを採用する可能性があります。エンドユーザーは、生物科学、エレクトロニクス、工業科学、材料科学の障害を簡単に検出できます。構造のサイズ、形状、特性に応じて破損を引き起こす可能性のある破損には、貧弱な微細構造が含まれる場合があり、異物による汚染は簡単に特定して修正できます。

レポートの範囲

レポート指標 詳細
基準年 2021
研究期間 2020-2029
予想期間 2024-2032
年平均成長率 8.5%
市場規模 2021
急成長市場 アジア太平洋地域
最大市場 北米
レポート範囲 収益予測、競合環境、成長要因、環境&ランプ、規制情勢と動向
対象地域
  • 北米
  • ヨーロッパ
  • APAC
  • 中東・アフリカ
  • ラタム
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市場動向

故障分析市場の推進力

  • エンドユース業界からの高い需要が市場の成長を促進

無線通信およびエレクトロニクス分野の成長により、製造業が増加しました。これらの業界からの需要が世界の故障解析市場を牽引しています。これに加え、半導体や組み込みシステムの急速な小型化、回路設計の複雑化により、故障解析装置の需要が高まっています。メーカーは、集積回路 (IC) の開発プロセスにおいて、ハイエンドの故障解析装置を求めています。

  • 故障解析ツールによる故障の早期認識により、メーカーでの導入を促進

提供される製品やソリューションの品質に対する人々の意識の高まりと、中断のないサービスに対する需要の高まりにより、組織は製造施設に故障分析を導入する必要に迫られています。市場の成長は、技術と産業の進歩によってさらに加速されます。これにより、組織は製品の性質や潜在的な欠陥を、製品が製造される前から事前に監視することで、生産コストを削減できるようになります。これにより、運用を完全に制御できるようになり、世界の故障分析市場の収益増加に貢献しています。

障害分析市場の制約

  • 市場の成長を制限する高い実装コスト

機器の実装における高コストと複雑さは、故障解析市場に悪影響を及ぼしています。導入に伴い、維持コストも著しく高くなります。安価で高品質のコンポーネントの需要など、自動車業界が直面する課題の増大により、ソリューションプロバイダーはそのようなコンポーネントが十分な品質で設計および製造されることを保証する必要が生じており、これが市場の成長をある程度鈍化させています。

  • 今後の市場成長を促進するための技術投資

故障解析市場は、変化する消費者の需要に応える新しい開発やイノベーションによって継続的に恩恵を受けています。根本原因を検出し、それらを修正して運用の混乱を防ぐための効率的なツールやテクノロジーに対する需要は常に高くなります。このような開発と革新は、故障解析市場に有利な成長機会を提供し、その視野を世界中に拡大すると期待されています。

外国投資家は、地域サービスプロバイダーの成長のための強力な基盤を構築すると期待される以下のテクノロジーにも関心を持っています。超音波および X 線撮影技術は、故障解析の非破壊方法として大きく台頭しています。パルス渦電流 (PEC) 試験により、より多くの体積検査が可能になり、より多くの情報が得られます。

磁気共鳴イメージングは、PET/MRI ハイブリッド イメージング システムに焦点を当てた故障解析に使用されるもう 1 つの非破壊検査方法です。故障分析業界におけるその他の最新の進歩には、人工知能に加えて、ビジョンベースのセンサーとプロセッサーが含まれます。フーリエ変換赤外 (FTIR) 分光法、光学電子顕微鏡 (CLEM)、および超解像顕微鏡は、小さなサンプルの微細破壊分析に適した故障検出における新興技術の一部であり、故障解析装置の成長を促進すると予想されています。予測期間中の市場

分析

  • 集束イオンビーム (FIB) システム部門は最高の CAGR で成長

FIB システム部門は、材料科学と生物科学において幅広い用途を見出しています。メーカーは、材料科学におけるエラー修正をサポートするために、商業目的に焦点を当てた FIB の開発に注力しています。サンプル前処理、微細構造分析、ナノ加工のプロトタイピングに FIB インサーキット編集と透過型電子顕微鏡 (TEM) が広く使用されていることが、セグメントの成長を促進しています。

  • エレクトロニクスおよび半導体アプリケーションセグメントが最大の市場シェアを保持

エレクトロニクスおよび半導体アプリケーションセグメントは、産業界で小型トランジスタチップ、ナノエレクトロニクス、オプトエレクトロニクスに対する需要が急増しているため、故障解析市場で最大のシェアを占めると予想されています。エレクトロニクスおよび半導体セクターは、電子機器の製造におけるロボット工学やオートメーションの導入の増加により、主要セクターとして台頭しています。これにより、スマートデバイス、ウェアラブル、スマート産業機器を構築するための高密度、統合、小型化されたデバイスの需要が増加しています。

地域分析

米国とカナダが北米の故障解析市場の最有力候補となる

北米市場の成長は、高度な顕微鏡システムが広く利用可能になったことと、ナノテクノロジーに積極的に注力している主要な市場プレーヤーの存在に起因すると考えられます。米国には、Danaher や Thermo Fisher Scientific などの重要な業界リーダーの本拠地があります。米国とカナダは、電子顕微鏡、デジタル顕微鏡、共焦点顕微鏡などの故障解析技術をいち早く導入した国の一部です。自動車セクターでは、ゼネラルモーターズやフォードなど自動化に大きく依存している企業の存在により、故障解析が強く求められています。

アジア太平洋地域の急成長する自動車産業が故障解析市場の成長を牽引

故障解析装置の効率に関する憶測が、APAC 地域の市場を牽引する主要な要因となっています。故障解析装置は価格が高いため、コストに敏感な中小規模の業界での導入が制限されています。しかし、アジア太平洋地域の大企業の間では、高度なエラー検出および修正ソリューションに対する需要が予測されています。台湾、中国、日本、韓国、インドなどの国々はエレクトロニクスおよび半導体産業の主導国として台頭しており、その中にはすでに市場での存在感を確立している国もあります。このため、APAC は 2 桁の CAGR 成長を遂げ、収益を生み出す有利な市場となっています。

APAC は自動車市場のハブとして成長しています。人口密度により先進車両だけでなく乗用車の需要も高まっているため、メーカーは消費者の需要を満たすために電気自動車やハイブリッド自動車などの新技術への投資を余儀なくされています。自動車ではコンポーネントが故障して重大事故を引き起こす可能性があるため、故障解析ツールやソフトウェアのニーズが高まっています。

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故障解析市場のトップ競合他社

  1. Thermo Fisher Scientific, Inc.
  2. Hitachi High-Technologies Corporation
  3. Carl Zeiss
  4. JOEL, Ltd.
  5. TESCAN OSRAY HOLDING
  6. Bruker
  7. Semilab
  8. A&D Company, Ltd.
  9. HORIBA, Ltd.
  10. Leica Microsystems GmbH
  11. Veeco Instruments
  12. Oxford Instruments
  13. Eurofins Scientific

故障解析市場の市場区分

テクノロジー別

  • エネルギー分散型 X 線分光法 (EDX)
  • 二次イオン質量分析法 (SIMS)
  • 集束イオンビーム (FIB)
  • ブロードイオンミリング (BIM)
  • 反応性イオンエッチング (RIE)
  • 走査型プローブ顕微鏡 (SPM)

用途別

  • エレクトロニクスおよび半導体
  • 生産科学
  • 材料科学
  • バイオサイエンス

地域別

  • 北アメリカ
  • ヨーロッパ
  • APAC
  • 中東諸国とアフリカ
  • LATAM


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