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故障解析市場 サイズと展望 2025-2033

故障解析市場の規模、シェア、トレンド分析レポート：技術別（エネルギー分散型X線分光法（EDX）、二次イオン質量分析法（SIMS）、集束イオンビーム（FIB）、ブロードイオンミリング（BIM）、反応性イオンエッチング（RIE）、走査プローブ顕微鏡（SPM））、アプリケーション別（エレクトロニクスおよび半導体、産業科学、材料科学、バイオサイエンス）、地域別（北米、ヨーロッパ、アジア太平洋、中東およびアフリカ、ラテンアメリカ）予測、2025～2033年

レポートコード: SRTE1859DR
公開済み : Sep, 2025
ページ : 110
著者 : Rushabh Rai
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目次

  1. エグゼクティブ・サマリー
    1. 研究目的
    2. 限界と前提
    3. 市場範囲とセグメンテーション
    4. 通貨と価格を考慮
    1. 新興地域／国
    2. 新興企業
    3. 新たな用途／最終用途
    1. ドライバー
    2. 市場警告要因
    3. 最新のマクロ経済指標
    4. 地政学的影響
    5. 技術的要因
    1. ポーターズファイブフォース分析
    2. バリューチェーン分析
  2. ESGの動向
    1. グローバル 故障解析市場 はじめに
    2. 技術別
      1. はじめに
        1. 技術別 (価値)
      2. エネルギー分散型X線分光法（EDX）
        1. 価値別
      3. 二次イオン質量分析法（SIMS）
        1. 価値別
      4. 集束イオンビーム（FIB）
        1. 価値別
      5. ブロードイオンミリング（BIM）
        1. 価値別
      6. 反応性イオンエッチング（RIE）
        1. 価値別
      7. 走査プローブ顕微鏡（SPM）
        1. 価値別
    3. 用途別
      1. はじめに
        1. 用途別 (価値)
      2. エレクトロニクスおよび半導体
        1. 価値別
      3. 産業科学
        1. 価値別
      4. 材料科学
        1. 価値別
      5. バイオサイエンス
        1. 価値別
    1. はじめに
    2. 技術別
      1. はじめに
        1. 技術別 (価値)
      2. エネルギー分散型X線分光法（EDX）
        1. 価値別
      3. 二次イオン質量分析法（SIMS）
        1. 価値別
      4. 集束イオンビーム（FIB）
        1. 価値別
      5. ブロードイオンミリング（BIM）
        1. 価値別
      6. 反応性イオンエッチング（RIE）
        1. 価値別
      7. 走査プローブ顕微鏡（SPM）
        1. 価値別
    3. 用途別
      1. はじめに
        1. 用途別 (価値)
      2. エレクトロニクスおよび半導体
        1. 価値別
      3. 産業科学
        1. 価値別
      4. 材料科学
        1. 価値別
      5. バイオサイエンス
        1. 価値別
    4. アメリカ
      1. 技術別
        1. はじめに
          1. 技術別 (価値)
        2. エネルギー分散型X線分光法（EDX）
          1. 価値別
        3. 二次イオン質量分析法（SIMS）
          1. 価値別
        4. 集束イオンビーム（FIB）
          1. 価値別
        5. ブロードイオンミリング（BIM）
          1. 価値別
        6. 反応性イオンエッチング（RIE）
          1. 価値別
        7. 走査プローブ顕微鏡（SPM）
          1. 価値別
      2. 用途別
        1. はじめに
          1. 用途別 (価値)
        2. エレクトロニクスおよび半導体
          1. 価値別
        3. 産業科学
          1. 価値別
        4. 材料科学
          1. 価値別
        5. バイオサイエンス
          1. 価値別
    5. カナダ
    1. はじめに
    2. 技術別
      1. はじめに
        1. 技術別 (価値)
      2. エネルギー分散型X線分光法（EDX）
        1. 価値別
      3. 二次イオン質量分析法（SIMS）
        1. 価値別
      4. 集束イオンビーム（FIB）
        1. 価値別
      5. ブロードイオンミリング（BIM）
        1. 価値別
      6. 反応性イオンエッチング（RIE）
        1. 価値別
      7. 走査プローブ顕微鏡（SPM）
        1. 価値別
    3. 用途別
      1. はじめに
        1. 用途別 (価値)
      2. エレクトロニクスおよび半導体
        1. 価値別
      3. 産業科学
        1. 価値別
      4. 材料科学
        1. 価値別
      5. バイオサイエンス
        1. 価値別
    4. イギリス
      1. 技術別
        1. はじめに
          1. 技術別 (価値)
        2. エネルギー分散型X線分光法（EDX）
          1. 価値別
        3. 二次イオン質量分析法（SIMS）
          1. 価値別
        4. 集束イオンビーム（FIB）
          1. 価値別
        5. ブロードイオンミリング（BIM）
          1. 価値別
        6. 反応性イオンエッチング（RIE）
          1. 価値別
        7. 走査プローブ顕微鏡（SPM）
          1. 価値別
      2. 用途別
        1. はじめに
          1. 用途別 (価値)
        2. エレクトロニクスおよび半導体
          1. 価値別
        3. 産業科学
          1. 価値別
        4. 材料科学
          1. 価値別
        5. バイオサイエンス
          1. 価値別
    5. ドイツ
    6. フランス
    7. スペイン
    8. イタリア
    9. ロシア
    10. ノルディック
    11. ベネルクス
    12. ヨーロッパのその他の地域
    1. はじめに
    2. 技術別
      1. はじめに
        1. 技術別 (価値)
      2. エネルギー分散型X線分光法（EDX）
        1. 価値別
      3. 二次イオン質量分析法（SIMS）
        1. 価値別
      4. 集束イオンビーム（FIB）
        1. 価値別
      5. ブロードイオンミリング（BIM）
        1. 価値別
      6. 反応性イオンエッチング（RIE）
        1. 価値別
      7. 走査プローブ顕微鏡（SPM）
        1. 価値別
    3. 用途別
      1. はじめに
        1. 用途別 (価値)
      2. エレクトロニクスおよび半導体
        1. 価値別
      3. 産業科学
        1. 価値別
      4. 材料科学
        1. 価値別
      5. バイオサイエンス
        1. 価値別
    4. 中国
      1. 技術別
        1. はじめに
          1. 技術別 (価値)
        2. エネルギー分散型X線分光法（EDX）
          1. 価値別
        3. 二次イオン質量分析法（SIMS）
          1. 価値別
        4. 集束イオンビーム（FIB）
          1. 価値別
        5. ブロードイオンミリング（BIM）
          1. 価値別
        6. 反応性イオンエッチング（RIE）
          1. 価値別
        7. 走査プローブ顕微鏡（SPM）
          1. 価値別
      2. 用途別
        1. はじめに
          1. 用途別 (価値)
        2. エレクトロニクスおよび半導体
          1. 価値別
        3. 産業科学
          1. 価値別
        4. 材料科学
          1. 価値別
        5. バイオサイエンス
          1. 価値別
    5. 韓国
    6. 日本
    7. インド
    8. オーストラリア
    9. 台湾
    10. 東南アジア
    11. その他のアジア太平洋地域
    1. はじめに
    2. 技術別
      1. はじめに
        1. 技術別 (価値)
      2. エネルギー分散型X線分光法（EDX）
        1. 価値別
      3. 二次イオン質量分析法（SIMS）
        1. 価値別
      4. 集束イオンビーム（FIB）
        1. 価値別
      5. ブロードイオンミリング（BIM）
        1. 価値別
      6. 反応性イオンエッチング（RIE）
        1. 価値別
      7. 走査プローブ顕微鏡（SPM）
        1. 価値別
    3. 用途別
      1. はじめに
        1. 用途別 (価値)
      2. エレクトロニクスおよび半導体
        1. 価値別
      3. 産業科学
        1. 価値別
      4. 材料科学
        1. 価値別
      5. バイオサイエンス
        1. 価値別
    4. UAE
      1. 技術別
        1. はじめに
          1. 技術別 (価値)
        2. エネルギー分散型X線分光法（EDX）
          1. 価値別
        3. 二次イオン質量分析法（SIMS）
          1. 価値別
        4. 集束イオンビーム（FIB）
          1. 価値別
        5. ブロードイオンミリング（BIM）
          1. 価値別
        6. 反応性イオンエッチング（RIE）
          1. 価値別
        7. 走査プローブ顕微鏡（SPM）
          1. 価値別
      2. 用途別
        1. はじめに
          1. 用途別 (価値)
        2. エレクトロニクスおよび半導体
          1. 価値別
        3. 産業科学
          1. 価値別
        4. 材料科学
          1. 価値別
        5. バイオサイエンス
          1. 価値別
    5. トルコ
    6. サウジアラビア
    7. 南アフリカ
    8. エジプト
    9. ナイジェリア
    10. 中東諸国とアフリカの残りの部分
    1. はじめに
    2. 技術別
      1. はじめに
        1. 技術別 (価値)
      2. エネルギー分散型X線分光法（EDX）
        1. 価値別
      3. 二次イオン質量分析法（SIMS）
        1. 価値別
      4. 集束イオンビーム（FIB）
        1. 価値別
      5. ブロードイオンミリング（BIM）
        1. 価値別
      6. 反応性イオンエッチング（RIE）
        1. 価値別
      7. 走査プローブ顕微鏡（SPM）
        1. 価値別
    3. 用途別
      1. はじめに
        1. 用途別 (価値)
      2. エレクトロニクスおよび半導体
        1. 価値別
      3. 産業科学
        1. 価値別
      4. 材料科学
        1. 価値別
      5. バイオサイエンス
        1. 価値別
    4. ブラジル
      1. 技術別
        1. はじめに
          1. 技術別 (価値)
        2. エネルギー分散型X線分光法（EDX）
          1. 価値別
        3. 二次イオン質量分析法（SIMS）
          1. 価値別
        4. 集束イオンビーム（FIB）
          1. 価値別
        5. ブロードイオンミリング（BIM）
          1. 価値別
        6. 反応性イオンエッチング（RIE）
          1. 価値別
        7. 走査プローブ顕微鏡（SPM）
          1. 価値別
      2. 用途別
        1. はじめに
          1. 用途別 (価値)
        2. エレクトロニクスおよび半導体
          1. 価値別
        3. 産業科学
          1. 価値別
        4. 材料科学
          1. 価値別
        5. バイオサイエンス
          1. 価値別
    5. メキシコ
    6. アルゼンチン
    7. チリ
    8. コロンビア
    9. LATAMのその他の地域
    1. 故障解析市場 選手別シェア
    2. M＆A契約と提携分析
    1. Thermo Fisher Scientific, Inc.
      1. 概要
      2. ビジネス情報
      3. 収益
      4. ASP
      5. スウォット分析
      6. 最近の動向
    2. Carl Zeiss
    3. JOEL, Ltd.
    4. TESCAN OSRAY HOLDING
    5. Semilab
    6. A&D Company, Ltd.
    7. HORIBA, Ltd.
    8. Veeco Instruments
    9. Oxford Instruments
    10. Eurofins Scientific
    1. 研究データ
      1. 二次データ
        1. 主な二次資料
        2. 二次資料からの主要データ
      2. 一次データ
        1. 一次資料からの主要データ
        2. 予備選の内訳
      3. 二次調査と一次調査
        1. 業界の主要な洞察
    2. 市場規模の推定
      1. ボトムアップ・アプローチ
      2. トップダウン・アプローチ
      3. 市場予測
    3. 研究の前提
      1. 前提条件
    4. 制限事項
    5. リスク評価
    1. ディスカッション・ガイド
    2. カスタマイズ・オプション
    3. 関連レポート
  3. 免責事項

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