Markt für Fehleranalyse, Durch Technologie (2022-2034)
- Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX)
- Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)
- Fokussierter Ionenstrahl (FIB)
- Breitionenfräsen (BIM)
- Reaktives Ionenätzen (RIE)
- Rastersondenmikroskopie (SPM)